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ES660 靜電放電和閂鎖測試系統(tǒng)是一款先進的多針自動測試設備，旨在滿足現(xiàn)代半導體測試的嚴格要求。這款多功能設備旨在無縫支持人體模型 (HBM)、機器模型 (MM) 和閂鎖測試，為評估集成電路 (IC) 和電子元件的可靠性和穩(wěn)健性提供全面的解決方案。 ES660-P1 配置支持多達1280個引腳， 非常適合測試具有大量連接的復雜 IC 和電子元件。從而縮短測試時間并提高生產(chǎn)率。

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統(tǒng)是一種IV曲線表征系統(tǒng)，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準，旨在高功率時域中模擬ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脈沖）及監(jiān)控設備（半導體、分立器件、電路模塊等）。應用于ESD性能表征/晶圓/封裝級ESD測試系統(tǒng)/電路模塊ESD測試/安全操作區(qū)（SOA）測試/觸摸屏ITO微帶線熔斷和擊穿測試等。

ES612A ESD測試儀(HBM、HMM、MM)是一款2管腳ESD測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM、HMM和MM的相關ESD標準。測試儀上的DC特性測試端口，可搭配數(shù)字源表等DC測試設備，較為輕松的幫助確定ESD損傷閾值。ES612A可搭配64pin/128pin多管腳自動化測試儀進行應用擴展，也可用作器件質(zhì)檢規(guī)范流程的一步。

ES640充電器件模型（CDM）測試系統(tǒng)，充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因。較低電壓下的C??DM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設備。當帶靜電的設備以不同的電位接觸金屬表面時，通常會發(fā)生這種情況。這種靜電放電通常具有非?？斓纳仙龝r間。

TLP-1000A系列傳輸線脈沖發(fā)生器是我們最新的（2022）獨立TLP脈沖設計，可以產(chǎn)生直接TLP脈沖、E場和H場并將其注入被測器件（DUT）。該發(fā)生器設計用于施加高達5kV（50歐姆負載）的高質(zhì)量矩形脈沖。5英寸彩色IPS觸摸屏和USB端口可以輕松遠程控制電壓極性、振幅和脈沖速率?？啥ㄖ频拿}沖寬度和上升時間以及可變測量附件使發(fā)電機功能可擴展。

ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)，能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。

EOS-500過電應力模擬發(fā)生器是一款50歐姆輸出阻抗脈沖發(fā)生器，用于一般EOS測試，脈沖寬度可在ns至ms范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。

CDM 器件充放電測試系統(tǒng)為ESD事件中的器件充放電測試模型， 模擬帶電荷的器件在接觸地低電荷時瞬間放電形成電流，對器件造成損傷和擊壞的過程